Дата публикации: 2011

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:58:32Z

Аннотация:

Уровни наводимых на сигнальных проводах, шинах питания и заземления радиоэлектронных устройств ВЧ и СВЧ помех даже в случае ослабления их на 80–100 дБ могут вызвать не только обратимые сбои в работе интегральных микросхем (ИМС), но и привести к деградационным изменениям в их структуре. При оценке влияния электромагнитных помех (ЭМП) для имитации воздействия часто используется метод излучения, в котором помеховый сигнал поступает к антенне, излучающей его в направлении исследуемого объекта, расположенного перед облучателем.

Тип: Статья