Дата публикации: 2013

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T18:00:13Z

Аннотация:

Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядов (ЭСР), характеризующийся тем, что осуществляют контактные воздействия ЭСР на выводы микроконтроллеров испытуемой партии при ступенчатом повышении испытательного напряжения, сверяют значения электрических параметров микроконтроллеров с их эталонными значениями для установления критического напряжения ЭСР и одновременно сверяют значения символьных данных, содержащихся в виде программного обеспечения во flash-памяти микроконтроллеров, с их эталонными значениями для обнаружения изменений в программном коде и установления соответствующего критического напряжения ЭСР.

Тип: Другое