Показаны различные подходы к проведению испытаний устройств и компонентов на устойчивость к воздействию электростатических разрядов. Рассмотрены различные модели, имитирующие разряд на электронные устройства. Описаны основные механизмы отказов полупроводниковых структур при импульсном воздействии ЭСР.