Материалов:
1 082 141

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питания

Плебанович, В. И., Боровиков, С. М., Будник, А. В., Borovikov, S. M.

Дата публикации: 2016

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T18:04:26Z

Ключевые слова:
материалы конференции, EEPROM, МОП-транзистор, интегральные микросхемы

Тип: Article

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core