Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии
Бумай, Ю. А.,
Васьков, О. С.,
Кононенко, В. К.,
Нисс, В. С.,
Керенцев, А. Ф.,
Петлицкий, А. Н.,
Соловьев, Я. А.
Связанные документы (рекомендация CORE)