Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Максимова О.В.; Мойсеенко С.В.

Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T20:12:49Z

Аннотация:

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов1

Ключевые слова:
тонкопленочный индикатор, яркость, светоотдача, жидкие кристаллы, автоматизация, формализация, измерения, электролюминесценция

Тип: Article

Права: open access

Источник: Автоматизация в промышленности