Диэлектрическая спектроскопия тонких слоёв в терагерцовом диапазоне

Zhizhin G.N.; Golovtsov N.I.; Loginov A.P.; Nikitin A.K.; Ryzhova T.A.

Диэлектрическая спектроскопия тонких слоёв в терагерцовом диапазоне

Zhizhin G.N., Golovtsov N.I., Loginov A.P., Nikitin A.K., Ryzhova T.A.

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T20:19:42Z

Аннотация:

Статья посвящена разработке диэлектрической спектроскопии (ДС) тонкослойных объектов в терагерцовом (ТГц) диапазоне посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ). Разработан и представлен ряд способов и устройств, реализующих ТГц ДС и основанных на сильной зависимости комплексного показателя преломления ПЭВ κ от диэлектрической проницаемости материала переходного слоя поверхности, направляющей ПЭВ. Три из предложенных способов основаны на интерференции в параллельных или квази параллельных пучках объёмных и (или) поверхностных волн. Способы позволяют определить обе части κ в ходе одной измерительной процедуры, причём некоторые из устройств, реализующих способы, являются статическими со временем срабатывания равным длительности одного импульса излучения. Кроме того, предложены две неинтерферометричекие методики для определения Re(κ), реализуемые с использованием перестраиваемых по частоте источников монохроматического ТГц излучения.