Материалов:
1 081 645

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Анализ дифракционных картин при синтезе наногетероструктур Ge/Si

Дата публикации: 2020

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T23:20:19Z

Тип: статьи в сборниках

Источник: Школа молодых ученых "Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем", 14-16 декабря, Новосибирск, Интернет-конференция Zoom: 886 6967 7489 : тезисы докладов. Новосибирск, 2020. С. 23-24


Связанные документы (рекомендация CORE)