Дата публикации: 2021

Дата публикации в реестре: 2022-10-06T13:56:39Z

Аннотация:

Тестирование – это измерение электрических параметров микросхем и полупроводниковых приборов и проведение функционального контроля микросхем. Поскольку мощные микросхемы и полупроводниковые приборы являются тепловыделяющими, их тестирование должно проводиться с учетом перегрева кристалла. В работе рассмотрены возможные способы их тестирования, в том числе учитывающие перегрев кристалла.

Тип: Working Paper

Другие версии документа

Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур