Материалов:
1 005 021

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Анализ микроэлектронных структур с высоким пространственным разрешением

Дата публикации: 2005

Дата публикации в реестре: 2022-10-06T16:31:46Z

Аннотация:

В данной работе для подготовки вертикальных сечений использовались различные механические обработки и финишное утонение ионным пучком. Использование такой комбинации методов является наиболее универсальным, так как способствует минимизации эффектов, связанных с различными свойствами материалов, входящих в многослойные системы, какими являются микросхемы. Изучены и установлены оптимальные условия проведения каждой операции, подробное описание последовательности действий при их выполнении отражены в соответствующих методиках.

Тип: Статья


Связанные документы (рекомендация CORE)