Представлены данные, объясняющие генерацию убегающих электронов после пробоя промежутка с резко неоднородным распределением напряженности электрического поля. Используя специальную методику измерения тока смещения, вызванного появлением и движением стримера, осуществлена при-вязка осциллограмм напряжения и тока убегающих электронов друг к другу, а также к динамике фор-мирования стримера, которая регистрировалась с помощью четырехканальной ICCD камеры. Показано,что первый пучок убегающих электронов генерируется в окрестности острийного катода в момент по-явления стримера. Второй пучок убегающих электронов генерируется в момент прихода на острийный катод обратной волны ионизации. Предполагается, что генерация второго пучка убегающих электронов происходит в катодном слое. Это подтверждается тем, что второй пучок убегающих электронов отсут-ствует в тех реализациях разряда, при которых наблюдается свечение катодного пятна до замыкания промежутка плазмой.