Прогнозирование долговечности паяных контактных соединений микросхем

Азин, Антон Владимирович; Марицкий, Николай Николаевич; Пономарев, Сергей Васильевич (доктор физ.-мат. наук); Рикконен, Сергей Владимирович

Прогнозирование долговечности паяных контактных соединений микросхем

Азин, Антон Владимирович, Марицкий, Николай Николаевич, Пономарев, Сергей Васильевич (доктор физ.-мат. наук), Рикконен, Сергей Владимирович

Дата публикации: 2022

Дата публикации в реестре: 2022-10-06T22:37:22Z

Аннотация:

Работа направлена на разработку метода неразрушающего контроля радиоэлектронного оборудования и его комплектующих. Метод позволяет выявить скрытые дефекты в конструкции электронной платы и спрогнозировать ресурс работы этой платы с учетом характера вероятных нагрузок при ее эксплуатации. Результаты аналитической оценки ресурса электронной платы верифицированы на основе данных экспериментальных исследований, проведенных в соответствии с IPC-9701. Погрешность прогнозирования не превышает 5%.

Ключевые слова:
электронные платы, паяные соединения, микросхемы, скрытые дефекты, методы неразрушающего контроля, надежность, долговечность

Тип: статьи в журналах

Источник: Вестник Томского государственного университета. Математика и механика. 2022. № 76. С. 43-55