X-ray microbeam characterisation of crystalline defects in small pixel GaAs:Cr detectors

Wheater, R. M.; Jowitt, L.; Zarubin, A. N.; Richards, S.; Veale, Matthew C.; Wilson, Matthew D.; Fox, O. J. L.; Sawhney, K. J. S.; Lozinskaya, A. D.; Shemeryankina, A.; Tolbanov, Oleg P.; Tyazhev, Anton V.

X-ray microbeam characterisation of crystalline defects in small pixel GaAs:Cr detectors

Wheater, R. M., Jowitt, L., Zarubin, A. N., Richards, S., Veale, Matthew C., Wilson, Matthew D., Fox, O. J. L., Sawhney, K. J. S., Lozinskaya, A. D., Shemeryankina, A., Tolbanov, Oleg P., Tyazhev, Anton V.

Дата публикации: 2021

Дата публикации в реестре: 2022-10-06T22:37:31Z

Аннотация:

Ключевые слова:
арсенид-галлиевые детекторы, методы визуализации

Тип: статьи в журналах

Источник: Nuclear instruments and methods in physics research Section A: accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. 2021. Vol. 999. P. 165207 (1-7)

X-ray microbeam characterisation of crystalline defects in small pixel GaAs:Cr detectors

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация