расширенный поиск
Дата публикации: 2022
Дата публикации в реестре: 2022-11-01T13:13:23Z
В работе рассматриваются основные модели неисправностей запоминающих устройств. Механизмы тестирования ЗУ на основе маршевых тестов и программное средство для анализа маршевых тестов.
Тип: Article