Тезис посвящен подходам к тестированию запоминающих устройств. В тексте рассмотрены основные модели неисправностей, примеры традиционных методов тестирования и маршевые тесты. Особое внимание уделено теме многократного неразрушающего тестирования. В работе приведены достоинства и недостатки исчерпывающего тестирования.
