расширенный поиск
Дата публикации: 2008
Дата публикации в реестре: 2023-02-21T11:01:56Z
Анализируется зависимость характеристик излучения, возникающего при прохождении через кристалл быстрых электронов, от качества внутренней структуры образца
Тип: Article