Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

Оценка структуры криталлических образцов с помощью излучения быстрых электронов

Дата публикации: 2008

Дата публикации в реестре: 2023-02-21T11:01:56Z

Аннотация:

Анализируется зависимость характеристик излучения, возникающего при прохождении через кристалл быстрых электронов, от качества внутренней структуры образца

Тип: Article

Другие версии документа

Оценка структуры криталлических образцов с помощью излучения быстрых электронов

Связанные документы (рекомендация CORE)