Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Эллипсометрический метод измерения оптических постоянных и толщины тонких поглощающих пленок на металлической подложке

Шкляревский, И.Н., Эль Шазли, А.Ф.А., Яровая, Р.Г., Костюк, В.П.

Дата публикации: 1974

Дата публикации в реестре: 2023-11-01T13:40:20Z

Ключевые слова:
эллипсометрический метод, металлическая подложка, оптические постоянные, хромовые зеркала

Тип: Article

Права: open access

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core