Исследовано влияние интерференционных эффектов на результаты измерения магнитооптической активности в полупроводниках в длинноволновой ИК области спектра λ ≈ 80 мкм. Показано, что при определенных значениях разности фаз интерферирующих лучей ошибка может достигать 100% в случае слаболегированноных полупроводников с концентрацией свободных носителей N ≤ 10¹⁶ см⁻³. Предложены методы устранения влияния интерференции, а также схема магнитополяриметра, позволяющая λ ≈ 80 мкм.