Изучена оптическая прозрачность AI, In, Sn, Mg, Ge, Se, Te. Образцы для исследования приготовлялись в виде свободных пленок толщиной в 100-300 нм методом испарения в вакууме. Приводятся спектральные характеристики пропускания пленок в оптимальном варианте и обсуждается механизм взаимодействия излучения с веществом.