В работе представлено сравнительное влияние оксидов теллура и ванадия на технологические характеристики (кристаллизационную способность и вязкость) щелочных алюмосиликатных стекол, предназначенных для ослабления электромагнитного излучения сверхвысокочастотного диапазона.