Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Измерение динамических параметров полупроводниковых приборов

Дата публикации: 2023

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T12:52:13Z

Аннотация:

Изготовлен макет устройства, который обеспечивает измерение динамических параметров силовых МОП, IGBT, БТ транзисторов и характеристики восстановления силовых диодов.

Тип: Working Paper


Связанные документы (рекомендация CORE)