Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования

Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Бересневич, А. И.

Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования

Цырельчук, Н. И., Боровиков, С. М., Будник, А. В., Бересневич, А. И.

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:18:57Z

Аннотация:

Рассмотрен метод имитационных воздействий, положенный в основу разработки методики индивидуального прогнозирования параметрической надёжности биполярных транзисторов. В качестве имитационного фактора предложено использовать ток коллектора.

Ключевые слова:
публикации ученых, биполярные транзисторы, параметрическая надёжность, метод имитационных воздействий, индивидуальное прогнозирование

Тип: Статья

Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация