Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах, а именно к технике определения диэлектрической проницаемости материалов. Способ включает в себя определение действительной G и мнимой B составляющих эквивалентной нормированной проводимости при использовании волноводной системы с расположенным на выходе подвижным короткозамыкателем, имеющим волноводную камеру с диэлектрическим стерженьком, незаполненным или заполненным исследуемым материалом, и дальнейшего расчета значений комплексной диэлектрической проницаемости и ее действительной ' и мнимой " составляющих. Для нахождения значений G и B вместо скалярного используется векторный анализатор цепей. G и B находятся по формулам
где
|Sи|, |Sо|, и, о - модули и фазы коэффициентов отражения, измеренные с помощью векторного анализатора цепей при заполнении исследуемым материалом стерженька и при незаполненном стерженьке соответственно;
и=l-и/2; о=l-о/2; l=-/2 + l/в;
- длина волны в волноводе;
о - длина волны в свободном пространстве;
l - расстояние между стерженьком и плоскостью подключения подвижного короткозамыкателя.