В данной статье был произведен обзор методов исследования кристаллических структур. На основе проанализированной информации было установлено, что наиболее полные исследования проводятся дифракционными методами. Установлено, что наиболее используемым и оптимальным методом является рентгеноструктурный анализ, однако наиболее подходящим для полного исследования является нейтронография. Денситометрия нейтронного резонанса, дифракция электронов и эллипсометрия же являются более узкопрофильными методами анализа.
