Дата публикации: 2022

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:21:31Z

Аннотация:

Для электронной аппаратуры важно обеспечивать работоспособность в широком диапазоне температур окружающей среды, которая определяется в первую очередь работоспособностью используемой элементной компонентной базы (ЭКБ). В статье приведены обзор и классификация оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур. Показано, что для тестирования могут применяться как автоматизированные, так и неавтоматизированные системы. Приведены основные характеристики различных серийно выпускаемых устройств для задания температур.

Тип: Article