Материалов:
1 082 141

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Universal Address Sequence Generator for Memory Built-in Self-test

Mrozek, I., Shevchenko, N. A., Yarmolik, V. N.

Дата публикации: 2022

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:22:12Z

Аннотация:
Ключевые слова:
публикации ученых, antirandom tests, controlled random tests, multiple tests, RAM testing

Тип: Article

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core