Модель прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощности методом имитационных воздействий для аппаратуры систем телекоммуникаций
Обеспечение эксплуатационной надежности электронных устройств систем телекоммуникаций методами прогнозирования надежности комплектующих элементов является важной технической задачей. В работе показано, как можно прогнозировать надежность полупроводниковых приборов большой мощности по внезапным отказам.