Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:29:19Z

Аннотация:

Рассмотрена возможная модель прогнозирования интенсивности отказов интегральных схем. Представлена математическая модель расчета эксплуатационной интенсивности отказов интегральных схем иностранного производства, которая позволяет осуществлять прогнозирование интенсивности отказов таких групп ИС как: цифровые и аналоговые ИС биполярной технологии; программируемые логические ИС (матрицы) биполярной технологии; цифровые ИС МОП технологии; аналоговые ИС МОП технологии; программируемые логические ИС МОП технологии; микропроцессоры биполярной технологии; микропроцессоры МОП технологии. Выполнено сравнение значений интенсивности отказов в зависимости от величины напряжения разряда статического электричества и от типа воздействия импульса разрядного тока.

Тип: Статья