Дата публикации: 2021

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:33:54Z

Аннотация:

Рассматривается решение задачи по прогнозирования индивидуальной надёжности биполярных транзисторов по значениям их информативных параметров в начальный момент времени. Показано применение метода пороговой логики с преобразованием значений информативных параметров в двоичный код и учётом частной информации, получаемой от двоичных сигналов о надёжности конкретного экземпляра.

Тип: Статья