Дата публикации: 1993

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:36:54Z

Аннотация:

Изобретение относится к механическим испытаниям, а именно к способам контроля долговечности полупроводниковых материалов и элементов на их основе, и может быть использовано для оценки долговечности полупроводниковых кристаллов в микроэлектронных изделий.

Тип: Other