Пленки Al и его бинарных слаболегированных сплавов с хромом, марганцем, железом и никелем, осажденные на стекло с использованием резонансного ионного источника вакуумной электродуговой плазмы, были исследованы на атомно-силовом микроскопе в контактном режиме и микроскопе марки с приставкой "HKL CHANNEL5" в режиме регистрации обратно отраженных электронов. Полученные результаты демонстрируют потенциальные возможности применения методов ионного ассистирования для создания тонких пленок сплавов алюминия в качестве лицевых контактов тонкопленочных солнечных элементов для повышения эффективности современных преобразователей солнечной энергии.