Дата публикации: 2010

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T18:31:18Z

Аннотация:

Статья посвящена описанию программы SCPIStudio, разработанной для измерения электрофизических свойств с помощью нескольких мультиметров.

Работа выполнена при поддержке ФЦП «Научные и научно-исследовательские кад ры инновационной России» на 2009-2013 гг. (ГК 6К/143-09 (Π646)).

Тип: Article

Права: open access