Диссертация посвящена разработке способов исследования SiФЭУ, установлению закономерностей поведения характеристик серийных моделей KETEK РМ
3325, ON Semi FC 30035 и опытного прибора производства ОАО «ИНТЕГРАЛ» –
управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ» при изменении внешних факторов, таких как температура, внешняя освещенность, и напряжение питания SiФЭУ,
а также новых оптоэлектронных устройств и приборов на квантовых эффектах на
их основе.