Дата публикации в реестре: 2024-10-01T18:09:22Z

Аннотация:

Впервые получены интерференционные спектры рентгеновского отражения от тонких пленок путем разложения спектра полихроматического пучка с помощью алмазной призмы. Измерения пленочных наноструктур и калибровочных спектров поглощения проводились на синхротроне ESRF. Предложенная спектрометрическая схема позволяет получать интерференционную картину в широком диапазоне изменений модуля вектора рассеяния q без углового сканирования. Это обеспечивает возможность изучения ультрабыстрых процессов в слоистых наноструктурах при интенсивном внешнем воздействии импульсами лазерного излучения или заряженных частиц с временным разрешением порядка длительности рентгеновского импульса.

Тип: Article

Источник: Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики