FIB микроскопия, особенности и применениеFIB микроскопия (Focused ion beam, ФИП, Фокусированный ионный
пучок) – это методика,
аналогичная
Исследование зарядового состава и условий получения многозарядных ионов в системе плазма-пучокИсследование зарядового состава и условий получения многозарядных ионов в системе плазма-
пучок Трубный пучок пучок. Широкое применение получили трубные пучки прямоугольного фронтального сечения по направлению