FIB микроскопия, особенности и применениеFIB микроскопия (Focused ion beam, ФИП, Фокусированный ионный
пучок) – это методика,
аналогичная
Исследование зарядового состава и условий получения многозарядных ионов в системе плазма-пучокИсследование зарядового состава и условий получения многозарядных ионов в системе плазма-
пучок О поле излучения в глубине полубесконечной мутной среды, содержащей точечный направленный источник мононаправленный источник. Получена также аналогичная асимптотика функции Грина уравнения переноса излучения для