Прогнозирование готовых и прошедших выходной контроль изделий электронной техники с точки зрения класса их надежности для заданной наработки может быть выполнено в начальный момент времени методами, использующими информативные параметры. Для целей практики интерес представляет прогнозирование с разделением выборки изделий для зад анной наработки на два класса: класс надежных и класс потенциально ненадежных экземпляров. Для прогнозирования используют модели, которые получают заблаговременно с помощью предварительных исследований определенной выборки изделий интересующего типа. В классических методах прогнозирования (потенциальных функций, статистических решений), модель прогнозирования получают, используя непрерывные значения информативных параметров. Автором был предложен метод, в котором информативные параметры преобразовывают в двоичные или троичные кодовые сигналы, что упрощает получение модели прогнозирования, которая в конечном итоге может быть представлена простой логической таблицей, показывающей связь комбинаций кодовых сигналов с классом надежности изделия. На примере выборок мощных полевых транзисторов исследована эффективность моделей прогнозирования, получаемых новым методом.