Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 18992

Страница 1 из 1900

Эффективность моделей прогнозирования надежности изделий электронной техники методом преобразования информативных параметров в троичный код
Боровиков, С. М.
Прогнозирование готовых и прошедших выходной контроль изделий электронной техники с точки зрения
Оценка ошибок прогнозирования параметрической надёжности изделий электронной техники
Боровиков, С. М., Бересневич, А. И., Шалак, А. В., Шнейдеров, Е. Н., Borovikov, S. M.
параметрической надёжности изделий электронной техники.
Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования
Цырельчук, Н. И., Боровиков, С. М., Будник, А. В., Бересневич, А. И.
прогнозирования параметрической надёжности биполярных транзисторов. В качестве имитационного фактора предложено
Автоматизация процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборов
Боровиков, С. М., Будник, А. В., Казючиц, В. О., Borovikov, S. M.
безопасности, во многих случаях предъявляются повышенные требования к надежности. Для обеспечения
Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надёжности транзисторов большой мощности и отбора высоконадёжных экземпляров
Казючиц, В. О.
Описывается применение метода индивидуального прогнозирования надёжности радиоэлектронных изделий
Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактора
Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н., Бересневич, А. И., Казючиц, В. О., Borovikov, S. M., Shneiderov, E. N., Berasnevich, A. I., Kaziuchyts, V. O.
Индивидуальное прогнозирование надежности полупроводниковых приборов c учетом постепенных отказов
Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий
Боровиков, С. М.
спрогнозировать значение параметра для заданной будущей наработки и принять решение о надежности этого
Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения
Боровиков, С. М., Казючиц, В. О., Borovikov, S. M., Kaziuchyts, V. O.
. Для отбора высоконадежных экземпляров использовано индивидуальное прогнозирование по информативным
Метод прогнозирования теплового сопротивления переход-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным электрическим параметрам
Казючиц, В. О., Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н.
прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов. Тепловое сопротивление переход-корпус полупроводниковых
Технологии Big Data при анализе результатов ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на надёжность
Казючиц, В. О., Боровиков, С. М., Borovikov, S. M.
В работе описывается применение метода индивидуального прогнозирования надёжности изделий

Страница 1 из 1900

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core