Материалов:
1 005 021

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Characterization of the Surface of Silver Ion-Implanted Silicon by Optical Reflectance

Stepanov A., Vorobev V., Nuzhdin V., Valeev V., Osin Y.

Дата публикации: 2017

Дата публикации в реестре: 2020-03-01T00:37:11Z

Аннотация:
Ключевые слова:
ion implantation, optical reflectance, plasmon resonance

Тип: Article

Источник: SCOPUS00219037-2017-84-5-SID85034086767

Другие версии документа

Characterization of the Surface of Silver Ion-Implanted Silicon by Optical Reflectance

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core