Материалов:
1 082 141

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Microscopic Examination of the Silicon Surface Subjected to High-Dose Silver Implantation

Vorob’ev V., Rogov A., Osin Y., Nuzhdin V., Valeev V., Eidel’man K., Tabachkova N., Ermakov M., Stepanov A.

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2020-03-01T02:05:47Z

Аннотация:

Тип: Article

Источник: SCOPUS10637842-2019-64-2-SID85065414202

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core