Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

Жарков, С.М.; Zharkov, Sergey M.

Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

Дата публикации: 2009-12

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T17:24:37Z

Аннотация:

На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры. Продемонстрировано применение методов высокоразрешающей и аналитической просвечивающей электронной микроскопии, а также дифракции электронов.

Ключевые слова:
просвечивающая электронная микроскопия, дифракция электронов, рентгеноспектральный анализ, transmission electron microscopy, electron diffraction, X-ray spectrum analysis

Тип: Journal Article