Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:20:50Z

Тип: статьи в журналах

Источник: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4. С. 82-90


Связанные документы (рекомендация CORE)