Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design

Matrosova, A. Yu., Nikolaeva, E. A., Kirienko, I. E., Ostanin, S. A.

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:20:50Z

Ключевые слова:
конечные автоматы, константные неисправности, монотонные функции, неисправности задержек путей

Тип: статьи в журналах

Источник: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4. С. 82-90

Связанные документы (рекомендация CORE)