Дата публикации: 1989

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T10:37:02Z

Аннотация:

Описаны экспериментально полученные статистические характеристики распределения производственных и эксплуатационных отказов запоминающих элементов в накопителях БИС ЗУ информационной емкостью 4 К. Показано, что по мере совершенствования технологии, конструкции и других особенностей производства БИС характер распределения производственных отказов от группирования изменяется в сторону статистической независимости.

Тип: Article