По вашему запросу найдено документов: 39993
Страница 1 из 4000
Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти эксплуатационных отказов запоминающих элементов в накопителях БИС ЗУ информационной емкостью 4 К. Показано, что по
Модель распределения дефектных запоминающих элементов на кристаллах БИС ЗУМодель распределения дефектных запоминающих элементов на кристаллах БИС ЗУ
Анализ тестов запоминающих устройств для обнаружения пассивных кодочувствительных неисправностейТезис посвящен методам обнаружения неисправностей запоминающих элементов. Рассматриваются модели
Надежность отказоустойчивых микросхем памяти, в которых информация согласовывается с состоянием отказавших запоминающих элементовВажное направление создания СБИС запоминающих устройств (ЗУ) повышенной
надежности - использование
Построение и применение маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройствПоказывается актуальность задачи тестирования запоминающих устройств современных
вычислительных
Надежность избыточных микросхем памяти, устойчивых к двойным ошибкам (ЗУ) заключается в размещении на кристалле ЗУ избыточных логических и запоминающих элементов
Анализ надежности невосстанавливаемых резервированных систем электроснабжения с учетом множественных отказов множественных отказов, вызванных отказами всех элементов системы по одной общей причине. Указаны основные
Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностейАнализируется эффективность применения неразрушающих тестов для тестирования запоминающих
Различные типы структур антипрожигаемых перемычек для программируемых пользователем вентильных матриц и постоянных запоминающих устройствИспользование антипрожигаемых перемычек в качестве программируемых элементов
становится все
Запоминающее устройство с коррекцией дефектных элементов памяти интегральных схем запоминающих устройств.
Страница 1 из 4000
Фасеты
Партнеры
Индексация
