Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Electrical characterization of insulator-semiconductor systems based on graded band gap MBE HgCdTe with atomic layer deposited Al2O3 films for infrared detector passivation

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2020-12-02T09:54:10Z

Аннотация:

Тип: статьи в журналах

Источник: Vacuum. 2018. Vol. 158. P. 136-140


Связанные документы (рекомендация CORE)