Модели деградации параметров  полупроводниковых  приборов  и  их  использование  для  прогнозирования  надежности  по постепенными отказам

Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Велюха, Ю. Е.; Хорошко, В. В.; Borovikov, S. M.

Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказам

Боровиков, С. М., Цырельчук, Н. И., Велюха, Ю. Е., Хорошко, В. В., Borovikov, S. M.

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:40:52Z

Аннотация:

Деградация функционального параметра полупроводникового прибора (ППП) обуславливает появление постепенного отказа ППП. По мере развития технологии изготовления ППП причины возникновения внезапных отказов могут быть в значительной мере устранены. Постепенные отказы, отражающие внутренне присущие материалам ППП свойства, в частности старение, в принципе исключить невозможно. Этим вызван повышенный интерес к постепенным (деградационным) отказам.

Ключевые слова:
материалы конференций, параметр полупроводникового прибора, модели деградации

Тип: Статья

Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказам

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация