По вашему запросу найдено документов: 8637
Страница 1 из 864
Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказамДеградация функционального параметра полупроводникового прибора (ППП)
обуславливает появление
Повышение надежности корпуса полупроводникового прибораПри работе полупроводникового прибора в экстремальных условиях важнейшей задачей является
Повышение точности измерения дистанции в дальномерном канале прибора наблюдения с использованием полупроводникового лазера полевых испытаний дальномерного канала прибора наблюдения.
CVD-адмаз в системе охлаждения мощного полупроводникового прибораCVD-адмаз в системе охлаждения мощного полупроводникового прибора
Экспериментальная верификация компьютерной модели системы охлаждения мощного полупроводникового прибораРассматривается система охлаждения мощного полупроводникового прибора (мощность - 1 кВт), состоящая
Исследование особенностей физического процесса переноса носителей заряда в графене, входящем в состав гетероструктурного полупроводникового прибора графене, входящем в состав гетероструктурного
полупроводникового прибора.
Повышение точности измерения дистанции в дальномерном канале прибора наблюдения с использованием полупроводникового лазера полевых испытаний дальномерного канала прибора наблюдения.
Особенности генерации фемтосекундных импульсов полосковым полупроводниковым лазером накачки. Обнаружено, что этот параметр стремится к нулю, когда ток накачки стремится к пороговому значению
Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температурМодернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в
Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температурМодернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в
Страница 1 из 864
Фасеты
Партнеры
Индексация
