Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Simulation of the Heavy Charged Particle Impacts on Electrical Characteristics of N-MOSFET Device Structure

Dao Dinh Ha, Tran Tuan Trung, Nguyen Trong Quang, Lovshenko, I., Khanko, V. T., Stempitsky, V.

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:50:40Z

Аннотация:
Ключевые слова:
публикации ученых, MOSFET, device simulation, ionizing radiation, single event upset, linear energy transfer

Тип: Статья

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core