Дата публикации: 2000

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T18:05:04Z

Аннотация:

Разработан принцип и система автоматизированного контроля параметров МДП структур при воздействии слабых магнитных полей (СМП), приводящего к долговременным изменениям их параметров с применением алгоритма согласованного выборочного анализа. Proposed is a principle and system of automated control of parameters of metal- insulator- semiconductor (MIS) structures exposed to low magnetic fields (LMF) which causes long-term variation of their parameters; the algorithm of the consistent sampling analysis is proposed

Тип: Abstract of the thesis