В статье показывается актуальность тестирования запоминающих устройств современных вычислительных
систем. Представляются математические модели сложных кодочувствительных неисправностей типа PNPSFk, на базе классических маршевых тестов. Определяется понятие примитива, обеспечивающего условия активизации и обнаружения различных видов PNPSFk. Синтезируется маршевый тест March OP
характеризующийся максимальной полнотой покрытия неисправностей PNPSFk по сравнению с известными маршевыми тестами, обеспечивающими такую же полноту покрытия сложных неисправностей запоминающих устройств.
